Skip to Menu Skip to Search Напишите нам Ukraine Выбрать веб-сайт и язык Skip to Content

Следовой анализ позволяет нам обнаруживать загрязнения в самых небольших концентрациях и может сыграть ключевую роль в вашей процедуре контроля качества. Это важно в производстве полупроводниковых устройств, т.к. даже остаточное количество загрязняющего вещества может повлиять на производительность или стать причиной отказа.

Услуги компании SGS по анализу следов предлагают проверенную специализированную методику, делая ее основополагающей частью системы контроля качества на производстве. Наш опытный персонал работает с высокопроизводительным оборудованием для обнаружения следов загрязняющих веществ, способных повлиять на работу вашего продукта или снизить его надежность. Мы проводим высокоточные испытания с помощью:

  • вторично-ионной масс-спектрометрии (SIMS) — обнаруживает загрязнения в самых небольших концентрациях; 
  • времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (ToF–SIMS) — определяет загрязнения поверхности;
  • масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICPMS) совместно с разложением в газовой фазе (VPD) или методом пакетного выделения (PEM) — очень чувствительна к широкому диапазону элементов;

Свяжитесь с компанией SGS, чтобы узнать, как наш следовой анализ может улучшить качество и надежность ваших продуктов.